2023年4月26日，兆维集团携手电子城高科成功举办“屏芯而论”CTO系列沙龙——第二期：半导体检测、量测专场活动。

        此次活动聚焦半导体检测、量测技术发展及在制造工艺中应用的技术挑战，以及未来的技术发展方向开展技术交流，在电子城高科创E+党支部书记、副总经理郭晓乐主持下开场，北京电控战略发展部副总监谭至晟，兆维集团党委副书记、总裁田永军及电子城高科创E+总经理马文操出席活动并致辞。北京市国资委机械工业仪器仪表综合技术经济研究所及西安交通大学机械工程学院、北京北方华创微电子装备有限公司、北京燕东微电子科技有限公司、北京大华无线电仪器厂、北京诺华资本投资管理有限公司的有关领导、专家及五家从事半导体检量测行业的企业相关负责人参加活动。

图 | 北京电控战略发展部副总监谭至晟致辞

图 | 兆维集团党委副书记、总裁田永军致辞

图 | 电子城高科创E+总经理马文操致辞

       活动中，机械工业仪器仪表综合技术经济研究所王春喜主任、西安交通大学机械工程学院杨树明教授、兆维集团牛文豪博士、兆维智能装备林涛博士分别就工业测控、半导体芯片量检测、半导体检测、基于显示成像的显示面板在线检量测技术的国内外发展趋势、技术路线、市场前景及政策支持等方面进行了分享，来自五家从事半导体检量测行业的企业相关负责人也就各自研究领域及创新技术进行了详细讲解。与会嘉宾针对半导体检测、量测领域相关技术难点、关键工艺及产业发展方向进行了充分的沟通交流。

图 | 王春喜主任作《工业测控新技术发展及标准》的主题分享

图 | 杨树明教授作《半导体芯片量检测技术及发展趋势》的主题分享

图 | 牛文豪博士作《探微究极 一丝不苟 得心应手》的主题分享

图 | 林涛博士作《基于显微成像的显示面板在线检、量测技术》的主题分享

       长期以来，兆维检测装备平台围绕服务国家重大战略和北京市“四个中心”功能建设，立足电控“构建以芯屏为核心的产业生态”战略部署，扎实推进集团“二二一”核心战略，瞄准定位，超前布局，围绕光学检测、量测技术，聚焦“卡脖子”核心技术突破，积极构建微米、纳米级缺陷检测和量测产品矩阵。借助此次活动的成功举办，兆维集团将进一步推动创新链与产业链深度融合，强化产业链上下游协同发展，全力打造国内领先的芯屏检测装备业务平台，切实肩负起首都国企的使命与担当，为北京电控“芯屏”产业的创新突破贡献力量。