应用于液晶面板模组段制程的点灯质量检测，可以实现模组屏点灯、OPT、Flick、AOI、外观检查等电测不良的光学检测，并针对模组产品的闪烁度、色度、亮度测量、点缺、线缺、像素、Mura、影像、元器件丢失、外观污渍、破损、黑胶异常等缺陷进行全自动分类检测。实现进口设备的替代，大幅提升制造业装备技术竞争力。