探针卡（probe card）是半导体工艺过程中晶圆测试（wafer test）中被测芯片（chip）和测试机之间的接口，其使用原理是将探针卡上的探针与芯片上的焊垫（pad）或凸块（bump）直接接触，导出芯片讯号。再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测晶圆。